Single atomic contact adhesion and dissipation in dynamic force microscopy

  1. Oyabu, N.
  2. Pou, P.
  3. Sugimoto, Y.
  4. Jelinek, P.
  5. Abe, M.
  6. Morita, S.
  7. Pérez, R.
  8. Custance, Ó.
Zeitschrift:
Physical Review Letters

ISSN: 1079-7114,  0031-9007

Datum der Publikation: 2006

Ausgabe: 96

Nummer: 10

Art: Artikel

DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.96.106101 GOOGLE SCHOLAR
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