ArF excimer laser epitaxy of Si x Ge 1-x alloys studied by XRD and XPS
- Larciprete, R.
- Willmott, P.
- Martelli, S.
- Cesile, M.C.
- Borsella, E.
- Chiussi, S.
- González, P.
- León, B.
Revista:
Applied Surface Science
ISSN: 0169-4332
Año de publicación: 1996
Volumen: 106
Páginas: 179-185
Tipo: Artículo