Complex patterning by vertical interchange atom manipulation using atomic force microscopy

  1. Sugimoto, Y.
  2. Pou, P.
  3. Custance, O.
  4. Jelinek, P.
  5. Abe, M.
  6. Perez, R.
  7. Morita, S.
Revista:
Science

ISSN: 0036-8075,  1095-9203

Ano de publicación: 2008

Volume: 322

Número: 5900

Páxinas: 413-417

Tipo: Artigo

DOI: 10.1126/SCIENCE.1160601 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus